Analytik

Rasterelektronenmikroskopie

Untersuchungen von Dünnschliff- und Bruchproben am Rasterelektronenmikroskop (REM)

- Hochauflösende Abbildung der Probenmorphologie (SE und BSE)

- Abbildung des Probengefüges (BSE-Elementkontrast)

Bestimmung der chemischen Zusammensetzung der         Probenbestandteile (EDX)

Kathodolumineszenzmikroskopie

Untersuchungen von Dünnschliffproben am Heisskathoden-Kathodolumineszenzmikroskop (CL)

- Farbige Abbildung des CL-Gefüges mit hoher Qualität

- Porenevolution (Bestimmung von Zementabfolgen)

Probenseparation

Ausbohren kleiner Bereiche (bis ca. 50 µm) aus Dünn- und Anschliffen